TOP050I064/100G
TOP050I064/100G ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
型号:
TOP050I064/100G
制造商:
STMicroelectronics (VA)
类别:
测试与测量 > 测试探针头
描述:
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
RoHS:
YES
TOP050I064/100G 规格
零件状态:
Active
评级:
-
颜色:
-
电压额定值:
-
包括:
-
额定电流(安培):
3 A
连接类型:
-
数量:
-
工作温度:
-55°C ~ 120°C
长度 - 尖端:
0.272" (6.90mm)
材料 - 主体:
Phosphor Copper, Gold Plated
材料 - 尖端:
Steel, Beryllium Copper, Gold Plated
针尖类型:
Spring Tip - Serrated Head, 0.025" (0.64mm) Dia
总长度:
1.700" (43.15mm)