Japanese
中文 Japanese
USD
USD CNY
Japanese
中文 Japanese
USD
USD CNY
Product Categories
抵抗器
- アクセサリー
インダクタ、コイル、チョーク
- ディレイライン
ポテンショメータ、可変抵抗器
- スケールダイヤル
試験と測定
- 試験および測定アクセサリ
- テストポイント
- 温度計
- テストプローブのヒント
- データ収集 (DAQ)
- GPIB と通信
試験装置
- オシロスコープ
- マルチメーター
- 特殊機器
- 可変変圧器
- ファンクションジェネレーター
- RF アナライザー
- 環境試験機
- 電源 (テスト、ベンチ)
- 電気テスター、電流プローブ
- コンビネーションセット
- フォース/トルクゲージ
テストリード
- グラバー、フック
- 熱電対、温度プローブ
- アリゲーター、クロコダイル、頑丈なクリップ
- ICクリップ
- BNCインターフェース
- ジャンパー、スペシャルティ
- バナナ、メーターインターフェース
- キット、詰め合わせ
- オシロスコーププローブ
集積回路 (IC)
- 専用IC
インターフェース
- モデム - IC およびモジュール
RF とワイヤレス
- RF その他の IC およびモジュール
Part Number
Brand
Package
Parameters
Inquiry
TOP100ZH15/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP075I064/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP100A15/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP100E15/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP050WN05/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP050I05/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP050W05/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
R100S
STMicroelectronics (VA)
Bag
ICT Receptacle
Submit
TOP100R06/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
TOP050I064/200G
STMicroelectronics (VA)
Box
ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
Submit
製品センター
抵抗器 インダクタ、コイル、チョーク ポテンショメータ、可変抵抗器 試験と測定 集積回路 (IC)
情報
私たちについて 連絡先
テクニカルサポート
サイトマップ
営業に連絡する
電話: 86-13826519287
営業に連絡する
Copyright@2026 クラスタリング技術 著作権所有
利用規約 Cookieポリシー